QB/T 2914-2007 画布框
作者:标准资料网 时间:2024-05-08 23:03:08 浏览:8352
来源:标准资料网
基本信息
标准名称: | 画布框 |
英文名称: | Canvas |
中标分类: |
轻工、文化与生活用品 >>
工艺美术品与其他日用品 >>
工艺美术品 |
ICS分类: |
家用和商用设备、文娱、体育 >>
艺术和手工艺品
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发布部门: | 中华人民共和国国家发展和改革委员会 |
发布日期: | 2007-12-03 |
实施日期: | 2008-06-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
提出单位: | 中国轻工业联合会 |
归口单位: | 全国文体用品标准化中心 |
起草单位: | 康大(宁波)绘画材料制造有限公司 |
起草人: | 王梦杰、任莉 |
出版社: | 中国轻工业出版社 |
出版日期: | 2008-06-01 |
页数: | 7页 |
批文号: | 22741-2008 |
书号: | 155019·3146 |
适用范围
本标准规定了画布框有分类要求、试验方法、检验规则与标志、包装、运输、贮存。本标准适用于儿童、学生、绘画爱好者和专业画家使用的画布框。
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所属分类: 轻工 文化与生活用品 工艺美术品与其他日用品 工艺美术品 家用和商用设备 文娱 体育 艺术和手工艺品
【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringFlatness,Thickness,andThicknessVariationonSiliconWafersbyAutomatedNoncontactScanning
【原文标准名称】:用自动无触点扫描法测量硅片平整度、厚度和厚度变化的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1530-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:平整度;半导体;探测法;试验;厚度;硅晶片;大晶片;自动无触点扫描;无损检验NDE;无触点技术;硅半导体;切片;厚度变化
【英文主题词】:byautomatednoncontactscanning;noncontacttechnique;siliconsemiconductors;siliconwafers;slices;thicknessvariation;nondestructiveevaluationnde;test;semiconductors;thickness;probemethods;wafers;
【摘要】:
【中国标准分类号】:H83
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Foodstuffs-Determinationofsulfite-Part2:Enzymaticmethod;GermanversionEN1988-2:1998
【原文标准名称】:食品.亚硫酸盐的测定.第2部分:酶催化法
【标准号】:EN1988-2-1998
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1998-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:亚硫酸盐;分析方法;分析;含量;食品检验;食品检验;亚硫酸;二氧化硫;食品保藏;食品防腐剂;试验;酶测定;化学分析和试验;掺和剂;食品添加剂;食品;含量测定;酶催化法
【英文主题词】:Additives;Analysis;Chemicalanalysisandtesting;Content;Determinationofcontent;Enzymaticmethods;Enzymeassay;Foodadditives;Foodinspection;Foodpreservation;Foodpreservatives;Foodpreservatives(foodproducts);Foodproducts;Foodtesting;Methodsofanalysis;Sulphitecontent;Sulphites;Sulphurdioxide;Sulphurousacid;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:X04
【国际标准分类号】:67_050
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语